Avec la complexité croissante de la topologie DeviceNet dans les systèmes d'automatisation industrielle et les exigences de fiabilité des équipements et des processus industriels de plus en plus strictes, les méthodes de diagnostic des défaillances du réseau deviennent de plus en plus importantes. Les systèmes DeviceNet sont souvent confrontés à des défaillances de connexion intermittente (IC) qui compromettent sérieusement les performances de production, voire la sécurité de l'exploitation. Cependant, les méthodes de diagnostic des défaillances IC actuelles dans DeviceNet - en particulier pour les réseaux topologiques complexes - ne peuvent pas traiter directement les scénarios multi-défaillances, nécessitant une intervention humaine pour un diagnostic complet. Pour les réseaux topologiques complexes de DeviceNet, cet article propose une nouvelle méthode de diagnostic des défaillances IC basée sur les données et l'inférence bayésienne, capable de localiser avec précision et efficacité toutes les défaillances IC du réseau sans perturber le fonctionnement normal du système. Tout d'abord, en analysant les trames de données interrompues par les défaillances IC, nous définissons les symptômes d'observation, puis nous effectuons une inférence bayésienne. Ensuite, en utilisant les informations quantitatives sur les symptômes et leur relation causale avec les défaillances IC présumées, nous proposons une méthode d'estimation basée sur l'inférence bayésienne pour estimer la probabilité a posteriori de chaque défaillance IC présumée dans le réseau. Enfin, un algorithme de diagnostic rapide basé sur la vraisemblance maximale est développé, capable d'identifier rapidement l'emplacement des défaillances IC dans différents scénarios de défaillance complexes. En mettant en place une station expérimentale et en menant une étude de cas dans différents réseaux topologiques et scénarios de défaillance, nous vérifions l'efficacité et les avantages des méthodes proposées. Les résultats expérimentaux montrent que la méthode proposée dans cet article est capable de diagnostiquer l'emplacement des défaillances IC en accord avec la configuration expérimentale.

DeviceNet; Bus de terrain; Topologie complexe; Diagnostic des défaillances; Connexion intermittente; Inférence bayésienne