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基于非易失存储器的细粒度检查点
常规文章 | Updated:2022-05-19
    • 基于非易失存储器的细粒度检查点

    • Fine-grained checkpoint based on non-volatile memory

    • 信息与电子工程前沿(英文)   2017年18卷第2期 页码:220-234
    • DOI:10.1631/FITEE.1500352    

      中图分类号: TP316
    • 收稿:2015-10-21,

      录用:2016-3-13,

      纸质出版:2017-02

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  • 张文喆, 卢凯, Mikel LUJAN, 等. 基于非易失存储器的细粒度检查点[J]. 信息与电子工程前沿(英文), 2017,18(2):220-234. DOI: 10.1631/FITEE.1500352.

    Wen-zhe ZHANG, Kai LU, Mikel LUJÁN, et al. Fine-grained checkpoint based on non-volatile memory[J]. Frontiers of Information Technology & Electronic Engineering, 2017, 18(2): 220-234. DOI: 10.1631/FITEE.1500352.

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