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基于Sense-Switch型pFLASH的FPGA可编程逻辑单元的设计与验证
常规文章 | Updated：2024-04-29

    • 基于Sense-Switch型pFLASH的FPGA可编程逻辑单元的设计与验证

      Cover Article

    • Design and verification of an FPGA programmable logic element based on Sense-Switch pFLASH

    • “科研团队在可编程逻辑元素领域取得了重要进展。他们提出了一种基于Sense-Switch pFLASH技术的可编程逻辑元素（PLE）。通过编程Sense-Switch pFLASH，PLE能够实现包括三位查找表（LUT3）、部分四位查找表（LUT4）、锁存器以及带有使能和复位功能的D触发器（DFF）等多种功能。这种逻辑元素采用操作逻辑选择（COOL）方法，使得任何逻辑电路都可以以任意比例实现组合逻辑和寄存器的功能。研究团队对Sense-Switch pFLASH和PLE电路进行了测量，结果显示，Sense-Switch pFLASH在“开”状态下的驱动电流约为245.52微安，而“关”状态下的泄漏电流仅为0.1皮安。PLE的可编程功能表现正常，典型组合逻辑操作AND3的延迟为0.69纳秒，而顺序逻辑操作DFF的延迟为0.65纳秒，均满足设计技术指标的要求。这一研究成果为可编程逻辑设计领域提供了新的思路和方法，有望推动该领域的发展，并为相关应用提供更高效、灵活的解决方案。”
    • 信息与电子工程前沿(英文版)   2024年25卷第4期 页码：485-499

    • DOI：10.1631/FITEE.2300454    

      中图分类号： TN402

    • 收稿：2023-07-05，

      修回：2023-12-17，

      录用：2023-12-17，

      纸质出版：2024-04-0

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  • 曹正州, 刘国柱, 张艳飞, 等. 基于Sense-Switch型pFLASH的FPGA可编程逻辑单元的设计与验证[J]. 信息与电子工程前沿(英文版), 2024,25(4):485-499. DOI： 10.1631/FITEE.2300454.

    Zhengzhou CAO, Guozhu LIU, Yanfei ZHANG, et al. Design and verification of an FPGA programmable logic element based on Sense-Switch pFLASH[J]. Frontiers of Information Technology & Electronic Engineering, 2024, 25(4): 485-499. DOI： 10.1631/FITEE.2300454.

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