基于长工作距便携式智能手机显微镜的金属网栅缺陷检测技术

陆振刚; 秦鸿圣; 李晶; 孙铭; 谭久彬

doi:10.1631/FITEE.2401002

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基于长工作距便携式智能手机显微镜的金属网栅缺陷检测技术

常规文章 | Updated：2025-07-28

- 基于长工作距便携式智能手机显微镜的金属网栅缺陷检测技术
  Enhanced Publication
- Long working distance portable smartphone microscopy for metallic mesh defect detection
- “在现场工业产品检测领域，提出了一种新型的长工作距离反射式智能手机显微镜（LD-RSM）系统。专家建立了LD-RSM系统，该系统为解决现有智能手机显微镜在工业现场检测中的局限性提供了解决方案。”
- 信息与电子工程前沿（英文） 2025年26卷第7期页码：1131-1143
- Affiliations：
  
  1.Center of Ultra-precision Optoelectronic Instrument Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China
  2.Key Lab of Ultra-precision Intelligent Instrumentation (Harbin Institute of Technology), Ministry of Industry and Information Technology, Harbin 150080, China
  3.Institute of Materials, China Academy of Engineering Physics, Jiangyou 621907, China
  4.Visual Computing Center, King Abdullah University of Science and Technology, Thuwal 23955, Saudi Arabia
- Author bio：
  
  ‡ Corresponding author
  21B901017@stu.hit.edu.cn
  ming.sun@kaust.edu.sa
- Funds：
  
  National Natural Science Foundation of China(61975046;62375068)
- DOI：10.1631/FITEE.2401002
  中图分类号： TP391.41
- 收稿：2024-11-13，
  
  修回：2025-01-13，
  
  纸质出版：2025-07
- Accepted：
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陆振刚, 秦鸿圣, 李晶, 等. 基于长工作距便携式智能手机显微镜的金属网栅缺陷检测技术[J]. 信息与电子工程前沿（英文）, 2025,26(7):1131-1143.

Zhengang LU, Hongsheng QIN, Jing LI, et al. Long working distance portable smartphone microscopy for metallic mesh defect detection[J]. Frontiers of Information Technology & Electronic Engineering, 2025, 26(7): 1131-1143.
陆振刚, 秦鸿圣, 李晶, 等. 基于长工作距便携式智能手机显微镜的金属网栅缺陷检测技术[J]. 信息与电子工程前沿（英文）, 2025,26(7):1131-1143. DOI： 10.1631/FITEE.2401002.

Zhengang LU, Hongsheng QIN, Jing LI, et al. Long working distance portable smartphone microscopy for metallic mesh defect detection[J]. Frontiers of Information Technology & Electronic Engineering, 2025, 26(7): 1131-1143. DOI： 10.1631/FITEE.2401002.

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DOI：10.1631/FITEE.2401002